株式会社システムロード

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知的財産権

商標1特許・実用新案14

特許

光学測定方法およびその装置

出願日: 2022年11月9日 · 出願番号: 2022179925

特許

光学特性平面分布測定方法およびその装置

出願日: 2022年11月9日 · 出願番号: 2022179924

特許

光学測定方法およびその装置

出願日: 2021年5月20日 · 出願番号: 2021085433

特許

光学測定方法およびその装置

出願日: 2019年10月9日 · 出願番号: 2019186038

特許

膜厚測定方法およびその装置

出願日: 2019年7月16日 · 出願番号: 2019130910

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