- 法人番号
- 1010001106141
- 所在地
- 東京都 港区 西新橋1丁目11番4号
- 従業員
- 15名
- 決算月
- 12月
- 企業スコア
- 55.7 / 100.0
代表取締役
金鍾得
確認日: 2019年12月31日
パーク・システムズ・ジャパン株式会社は、ナノスケール分析において極めて多用途かつ強力な顕微鏡技術である原子間力顕微鏡(AFM)システムとその関連ソリューションを開発・提供する企業です。同社は、三次元トポグラフィーイメージングだけでなく、研究者やエンジニアの多様なニーズに応じた幅広い表面計測を可能にするAFMの汎用性を最大限に活用しています。原子レベルの分解能とオングストロームスケールの高さ精度を実現し、最小限のサンプル準備で高精度な分析を可能にする点が同社の大きな強みです。同社のAFM技術は、コンタクトモード、ノンコンタクトモード、タッピングモードといった標準的なイメージング手法に加え、静電気力顕微鏡(EFM)、導電性AFM、走査型キャパシタンス顕微鏡(SCM)、走査型ケルビンプローブ顕微鏡(KPFM)、走査型拡がり抵抗顕微鏡(SSRM)などの電気特性測定、磁気力顕微鏡(MFM)による磁気特性測定、ナノインデンテーションやフォースモジュレーション顕微鏡(FMM)による機械的特性測定、さらには走査型近接場光学顕微鏡(NSOM)やチップ増強ラマンスペクトロスコピー(TERS)による光学特性測定、走査型サーマル顕微鏡(SThM)による熱特性測定、電気化学AFM(EC-AFM)による電気化学分析など、多岐にわたる高度な測定モードをサポートしています。対象顧客は、半導体、ポリマー、金属・セラミックス、薄膜、ライフサイエンス、二次元材料、表面工学、光学異方性膜、フォトニクス、ディスプレイといった幅広い分野の研究者、科学者、エンジニアです。特に二次元材料研究を牽引し、原子層レベルの詳細な洞察を提供することで、ディスプレイ技術や先進的な光学構造・材料の発展に不可欠な存在として業界での地位を確立しています。同社は、高精度なAFM製品を通じて、ナノスケールでのユニークな課題に対応し、設計と性能の最適化を支援するビジネスモデルを展開しています。また、E-Learning、テクニカルノート、ウェビナー、イメージギャラリーなどの豊富な知識リソースを提供し、顧客の研究活動を包括的にサポートしています。
純利益
4,393万円
総資産
2.2億円
ROE_単体
24.17% · 2019年12月
1期分(2019/12〜2019/12)
ROA_単体
20.18% · 2019年12月
1期分(2019/12〜2019/12)
自己資本比率_単体
83.53% · 2019年12月
1期分(2019/12〜2019/12)
従業員数(被保険者)
15人 · 2026年5月
30期分(2023/12〜2026/05)
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