ネオアーク株式会社

製造業（精密機器・光学）法人向け
法人番号
3010101006875
所在地
東京都 八王子市 中野町２０６２番地２１
設立
従業員
35名
企業スコア
67.3 / 100.0

知的財産権

特許・実用新案30
特許

原子発振器及びその動作方法

出願日: · 出願番号: 2024050481

J-PlatPat →
特許

磁場測定デバイス、磁場測定装置、磁場測定システム及び磁場測定方法

出願日: · 出願番号: 2016011821

J-PlatPat →
特許

磁気特性測定装置、磁気特性測定方法及び磁界測定方法

出願日: · 出願番号: 2012078316

J-PlatPat →
特許

光ヘテロダイン距離計

出願日: · 出願番号: 2012042298

J-PlatPat →
特許

偏光変化スペクトル測定装置、偏光変化スペクトル測定方法、磁気光学効果測定装置及び磁気光学効果測定方法

出願日: · 出願番号: 2011287570

J-PlatPat →

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