株式会社多聞

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知的財産権

商標1特許・実用新案7

特許

膜厚測定方法、膜厚測定装置及びプログラム

出願日: 2025年10月27日 · 出願番号: 2025181216

特許

ウェーハの位置座標の変換方法及び検査装置

出願日: 2025年3月21日 · 出願番号: 2025047445

特許

テラス幅の測定方法、欠陥測定方法及び測定装置

出願日: 2024年8月2日 · 出願番号: 2024127935

特許

膜厚分布測定装置及び膜厚分布測定方法

出願日: 2024年5月20日 · 出願番号: 2024081704

特許

膜厚分布測定装置及び膜厚分布測定方法

出願日: 2023年10月23日 · 出願番号: 2023182131

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