電子磁気工業株式会社

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知的財産権

商標1特許・実用新案53

特許

漏洩磁束探傷装置、及び漏洩磁束探傷方法

出願日: 2024年9月17日 · 出願番号: 2024160281

特許

空間磁場測定システム、及び空間磁場測定方法

出願日: 2023年3月16日 · 出願番号: 2023042072

特許

着磁装置、及び寿命予測方法

出願日: 2021年12月22日 · 出願番号: 2021208392

特許

渦電流探傷検査方法及び渦電流探傷検査装置

出願日: 2020年4月7日 · 出願番号: 2020068970

特許

磁気特性測定装置、及び磁気特性測定方法

出願日: 2019年11月22日 · 出願番号: 2019211399

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