卸売・商社（電気・電子）法人向け（製造業）
- 法人番号
- 9012301001915
- 所在地
- 神奈川県 横浜市港北区 新横浜２丁目１５番１０号
- 設立
- 従業員
- 29名
- 企業スコア
- 51.0 / 100.0
代表取締役社長
田平博志
確認日: 2026年4月15日
日本セミラボ株式会社は、ハンガリーに本社を置くSemilab社の日本法人として1987年に設立され、半導体製造における評価・解析装置の分野で世界トップクラスのシェアを誇ります。同社は、半導体測定装置、太陽電池評価装置の販売および技術サービスを主要事業として展開しており、半導体製造プロセスから研究開発用途まで幅広い分野に貢献しています。 同社の提供する製品群は多岐にわたり、半導体分野では結晶欠陥検査、汚染管理モニター、バルク汚染物質テスト、エピ抵抗率測定、誘電体の光学・電気特性制御、イオン注入モニタリング、結晶欠陥検出、3D構造デバイスの特性評価、ウェハー接合検査管理などに対応する装置を提供しています。可能な限り非接触・非破壊での測定を特徴とし、ラボでの手動操作から完全な自動化まで、多様なニーズに応えるソリューションを提供しています。具体的な製品としては、分光エリプソメーター、非接触シート抵抗/移動度測定装置、光散乱バルク微小欠陥検出装置、SiCイオン注入・ドーズ量モニター、ウェーハエッジ形状測定機、ウェーハ形状/ストレス測定装置、ポロシメーター、高抵抗率測定装置などがあります。 フラットパネルディスプレイ分野では、製造・開発に必要な光学・電気特性検査装置を取り扱い、G10を超える大型パネルからラボ用まで幅広い環境で利用可能です。太陽電池分野では、結晶シリコン太陽電池製造プロセス管理を支援し、シリコンインゴットの電気特性確認、欠陥・含有物検出、ウェハーソーター、インライン・フォトルミネッセンスイメージング、シート抵抗測定、反射防止膜品質管理などに対応する製品を提供しています。 また、同社は半導体、太陽電池、フラットパネルディスプレイ、薄膜研究、材料科学といった分野の研究開発アプリケーション専用ソリューションの開発にも長年の歴史を持ち、薄膜と表面の物性特性評価に特化した多目的で拡張性の高い装置を提供しています。顧客は半導体関連メーカー、企業、大学の研究開発部門など多岐にわたります。同社は「目に見えない部分＝内部をより精しく、丁寧に検査」する技術を強みとし、ハンガリー本社が擁する多数の物理学者・スペシャリストのノウハウを活かし、「メトロロジー・インスペクション分野」での「Only One スキーム」を追求しています。最近では、高精度かつ迅速な有償測定サービスも開始し、顧客の多様なニーズに柔軟に対応するビジネスモデルを強化しています。
従業員数（被保険者）
29人 · 2026年5月
29期分（2023/12〜2026/05）
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