製造業（半導体・電子部品）法人向け（製造業）
- 法人番号
- 8370001042113
- 所在地
- 東京都 千代田区 内神田２丁目１４番４号内神田ビルディング１Ｆ
- 設立
- 従業員
- 0名
- 企業スコア
- 38.4 / 100.0
代表
星裕介
確認日: 2026年4月16日
株式会社パンソリューションテクノロジーズは、半導体用材料検査装置および太陽電池用材料の製造・販売、半導体用ウェハおよび太陽電池用ウェハの受託測定サービス、ならびに半導体用材料および太陽電池用材料技術のコンサルティングを主要事業として展開しています。同社の核となるのは、東北大学金属材料研究所の研究成果を基盤とする独自の新測定技術「HS-CMR法（Hi Speed-Current Modulating Resistivity Method）」です。この技術は、高速で印加電流を変化させながら抵抗率プロファイルを取得することで、ウェハ表面の汚染や機械的ダメージだけでなく、内部の結晶欠陥や不純物による影響までを正確に反映し、ウェハの品質を総合的に評価することを可能にします。HS-CMR法は、太陽電池用結晶材料に加えて、SiC、GaN、Ga2O3といった化合物半導体を含む多様な半導体用結晶材料に適用可能です。 同社の製品ラインナップには、ウェハの品質保証、開発効率の改善、不良率の低減に貢献するスポットタイプの検査装置や、量産ラインに接続して全数検査に対応するインラインタイプの装置が含まれます。特に「VWECER-100-S」は、卓上サイズでウェハを一枚ずつ測定できる小型化された製品として提供されています。受託測定サービスでは、光学的検査手法では捉えきれない半導体ウェハの結晶品質を、研磨前の「アズスライス」状態でも評価できる点が大きな強みです。また、エッチング処理が不要であるため、試料受領から最短1週間程度で検査結果をフィードバックできる迅速性も特徴です。これにより、パワー半導体結晶開発の加速や加工不良の原因究明に大きく貢献し、ユーザーからは高い評価を得ています。 同社は、太陽電池用シリコンウェハ向けに培った品質評価技術を、成長著しいパワー半導体分野へと積極的に展開しています。シリコン系パワー半導体用ウェハ検査装置や、SiCなどの化合物半導体用ウェハ検査装置の製品化を推進しており、東北大学や名古屋大学といった研究機関との共同開発も進めています。さらに、経済産業省主導の「飛び出せJapan！」事業に採択され、インドにおける太陽電池用シリコンウェハ品質測定器の開発・実証に取り組むなど、国内外で低炭素社会の実現とエネルギー問題の解決に貢献するグローバルな事業展開を目指しています。
従業員数（被保険者）
0人 · 2026年5月
27期分（2024/03〜2026/05）
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