東京都杉並区に所在する、1995年設立・社会保険被保険者数10名の製造業(精密機器・光学)企業。
- 所在地
- 〒167-0051 東京都 杉並区 荻窪5丁目22番9号
- 法人番号
- 1011301002996
東京都杉並区に所在する、1995年設立・社会保険被保険者数10名の製造業(精密機器・光学)企業。
法人向け(製造業・教育・研修)
業種・対象顧客は公開情報をもとに分類・推定したものです。持株会社など グループ経営の会社では、主要な事業会社の業種を表示します。実態と 異なる場合はお問い合わせください。
ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社は、米国J.A. Woollam社の日本法人として、エリプソメトリー(偏光解析)技術に関する光学測定機器の輸入販売および製造を主軸に置く企業である。同社は分光エリプソメーターの専門メーカーグループとして、薄膜やバルク材料を非接触・非破壊で測定・解析する装置を扱い、M-2000、RC2、iSE、theta-SE、alpha 2.0、VASE、IR-VASE、VUV-VASEなど、紫外、真空紫外、可視、近赤外、赤外領域に対応する製品群を国内の研究開発・産業用途に展開する。 光学測定データの解析ソフトウェアについては、CompleteEASEやWVASEを用いた解析環境の輸入販売、開発、運用支援を担い、膜厚、屈折率、消衰係数、光学定数、組成比、導電性、表面状態、異方性、ミューラー行列などの評価に対応する。対象材料は半導体、誘電体、金属、ポリマー、有機膜、透明導電酸化物、フォトレジスト、光学コーティング、太陽電池材料、化学・バイオ関連材料などで、大学研究室、研究機関、半導体メーカー、光学部品メーカー、材料開発部門の薄膜評価ニーズを支える。 光学測定サービスでは、1995年の創業以来、日本国内で多数のサンプル測定を行い、193nmから2500nmまたは2から30μmまでの範囲選択、集光測定、面内膜厚分布測定、透過強度データを組み合わせた解析に対応する。技術評価や機種選定に関わるサンプル測定、有償の導入前測定、複雑な多層膜解析、Rth評価、リソグラフィー材料や化合物半導体の評価を行い、装置販売、解析ソフトウェア、測定受託、技術コンサルティングを組み合わせたビジネスモデルに特徴がある。
2026年6月11日 時点。この概要は AI を利用して公開情報から抽出しています。事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
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収録データなし: 決算・組織再編・ニュース・ネガティブ情報・所属団体
社会保険被保険者数
10人 · 2026年10月
35期分(2023/12〜2026/10)
被保険者数 前年同月比
0% · 2026年10月
前年同月 10人(2025年10月)→ 10人(0人)
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ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社は特許1件を保有しています。特許は計測などの分野が中心です。
特許
1件
登録・現存
1件
審査中
0件
満了
0件
消滅
0件
拒絶・取下げ
0件
※各区分の現存登録・審査中・消滅の件数です。企業の事業分野そのものではありません。
データ基準日: 2026年8月6日確認分
社会保険被保険者数
10人 · 2026年10月
35期分(2023/12〜2026/10)
被保険者数 前年同月比
0% · 2026年10月
前年同月 10人(2025年10月)→ 10人(0人)
所在地を問わず同業種で選定