法人向け（製造業・教育・研修）
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ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社は、米国J.A. Woollam社の日本法人として、エリプソメトリー（偏光解析）技術に関する光学測定機器の輸入販売および製造を主軸に置く企業である。同社は分光エリプソメーターの専門メーカーグループとして、薄膜やバルク材料を非接触・非破壊で測定・解析する装置を扱い、M-2000、RC2、iSE、theta-SE、alpha 2.0、VASE、IR-VASE、VUV-VASEなど、紫外、真空紫外、可視、近赤外、赤外領域に対応する製品群を国内の研究開発・産業用途に展開する。 光学測定データの解析ソフトウェアについては、CompleteEASEやWVASEを用いた解析環境の輸入販売、開発、運用支援を担い、膜厚、屈折率、消衰係数、光学定数、組成比、導電性、表面状態、異方性、ミューラー行列などの評価に対応する。対象材料は半導体、誘電体、金属、ポリマー、有機膜、透明導電酸化物、フォトレジスト、光学コーティング、太陽電池材料、化学・バイオ関連材料などで、大学研究室、研究機関、半導体メーカー、光学部品メーカー、材料開発部門の薄膜評価ニーズを支える。 光学測定サービスでは、1995年の創業以来、日本国内で多数のサンプル測定を行い、193nmから2500nmまたは2から30μmまでの範囲選択、集光測定、面内膜厚分布測定、透過強度データを組み合わせた解析に対応する。技術評価や機種選定に関わるサンプル測定、有償の導入前測定、複雑な多層膜解析、Rth評価、リソグラフィー材料や化合物半導体の評価を行い、装置販売、解析ソフトウェア、測定受託、技術コンサルティングを組み合わせたビジネスモデルに特徴がある。
2026年6月11日 時点。この概要は AI を利用して公開情報から抽出しています。事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
社会保険被保険者数
10人 · 2026年8月
33期分（2023/12〜2026/08）
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ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社は特許1件を保有しています。特許は計測などの分野が中心です。
特許
1件
登録・現存
1件
審査中
0件
満了
0件
消滅
0件
拒絶・取下げ
0件
溶融材料の光学測定装置および光学測定方法登録2014・請求項11項
測定対象である液体または溶融材料の量が少なくても、容易に平らな測定面で光学測定ができ、また蒸散や他の物質との反応を起さずに液体または溶融材料の物性を測定できる光学測定装置および測定方法
データ基準日: 2026年8月6日確認分
