神奈川県横浜市緑区に所在する、2021年設立・社会保険被保険者数8名の卸売・商社（機械・設備）企業。
- 所在地
- 〒226-0006 神奈川県 横浜市緑区 白山１丁目１８番２号
- 法人番号
- 3010401161478
神奈川県横浜市緑区に所在する、2021年設立・社会保険被保険者数8名の卸売・商社（機械・設備）企業。
法人向け（製造業・教育・研修）行政向け
業種・対象顧客は公開情報をもとに分類・推定したものです。持株会社など グループ経営の会社では、主要な事業会社の業種を表示します。実態と 異なる場合はお問い合わせください。
ＩＯＮＴＯＦジャパン株式会社は、ドイツの表面分析装置メーカーIONTOF GmbHの日本法人として、飛行時間型二次イオン質量分析計（TOF-SIMS）と低エネルギーイオン散乱装置（LEIS）の販売、アプリケーション支援、保守サービスを担う。同社は、日立ハイテクサイエンスが約20年間行ってきたIONTOF製品の販売・サービス活動を継承し、表面分析装置の導入提案からデモンストレーション、不具合対応、装置保守、移設、消耗品・サービス部品の供給までを日本国内で手掛ける。半導体、ポリマー、塗料・コーティング、バイオ材料、医薬品、ガラス、紙、金属、触媒などを研究・開発する企業や学術研究機関が主な顧客である。 製品群には、表面組成分析、深さ方向分析、表面イメージング、三次元分析に対応するTOF-SIMS「M6」、SIMSと走査型プローブ顕微鏡を組み合わせた「M6 Plus」、Q Exactiveを搭載して複雑な有機・バイオ試料を解析する「M6 Hybrid SIMS」、最外原子層を高感度で測定するLEIS「Qtac」、解析ソフトウェア「SurfaceLab 7」がある。M6はNanoprobe 50、Delayed Extraction mode、TOF MS/MSに対応し、50nm未満の空間分解能による微小領域観察、微量元素の検出、未知有機成分の構造推定を可能にする。日本法人は親会社と連携して装置販売と継続的な技術支援を収益の柱とし、長年IONTOF製品を扱ってきた技術者、国内在庫のサービス部品、M6を常設するデモ環境を組み合わせた迅速な導入・保守体制を強みとする。
2026年7月19日 時点。この概要は AI を利用して公開情報から抽出しています。事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
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