法人向け（製造業）
業種・対象顧客は公開情報をもとに AI が推定したものです。持株会社など グループ経営の会社では、主要な事業会社の業種を表示します。実態と 異なる場合は お問い合わせください。
株式会社多聞は、1996年の設立以来30年以上にわたり、精密測定技術を専門とする企業です。特に、非接触・非破壊の光学式厚さ測定システムの開発、製造、販売を主軸としており、半導体製造プロセスにおけるシリコンウェーハの厚さ測定を中心に、顧客の多様な測定課題に対応するカスタマイズシステムを提供しています。同社の強みは、長年の実績に裏打ちされた豊富な経験、顧客の生産環境に合わせた柔軟なカスタマイズ対応、そして光学式センサーによる高精度な測定技術にあります。営業・広報部門を持たず、顧客からの具体的な要望に応える形で事業を拡大してきました。 主要製品として、波長可変レーザを用いた「LSI-TG」は、1m以上の遠距離から厚物サンプルやハイドープSiウェーハをリアルタイムかつ非接触・非破壊で高速測定し、生産ラインへの組み込みに最適です。一方、白色光源と分光器を利用する「WSI-TG」は、コンパクトな設計で近距離からの薄膜測定（Si換算10μm以下）に特化し、卓上や携帯用途にも対応します。さらに、特許取得済みの「FALCO」は、ハイパースペクトルカメラを用いてサンプル全体の厚さ面内分布を高速で測定し、SOIウェーハの出荷検査やパターン付きウェーハのダイシング前検査といった大規模な品質管理システムに導入実績があります。 これらの測定システムに加え、同社は分光測定・検査装置向けの高性能LED光源ユニット「LSU-C01S04」や、USB接続分光器に対応した分光ピーク・半値幅解析ソフトウェア「TAMTEC PEAK ANALYZER」も提供しています。顧客は半導体メーカー、電子部品メーカー、製造業、研究機関など多岐にわたり、ウェット環境や高速移動体、多層測定といった特殊な環境や、イーサネット、PLC、DIOなどの多様な通信方式にも対応するオーダーメイドのシステム構築を可能にしています。
2026年6月6日 時点。この概要は AI を利用して公開情報から抽出しています。事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
株式会社多聞の直近の動向として、2025年10月27日に特許「膜厚測定方法、膜厚測定装置及びプログラム」を出願しています。続いて2026年4月14日には、手持ちの分光器を高度な解析システムへ転換し、成分分離やFWHMをリアルタイム算出する波形解析ソフト「TAMTEC PEAK ANALYZER」を発売したと発表しています。
社会保険被保険者数は2025年4月2日の11名から2026年7月2日の12名へと緩やかに増加しています。
膜厚測定関連の特許出願と分光器向け解析ソフトの発売があり、測定・解析技術の製品化を進める時期にあたります。
この要約は 2026-07-19 に AI が公開情報をもとに生成しています。 対象イベント 2 件。 事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
従業員数（被保険者）
12人 · 2026年7月
32期分（2023/12〜2026/07）
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株式会社多聞は特許8件を保有しています。特許は半導体などの分野が中心です。
特許
8件
商標
0件
審査中・消滅含む 1件
登録・現存
8件
審査中
0件
満了
0件
消滅
0件
拒絶・取下げ
0件
膜厚測定方法、膜厚測定装置及びプログラム登録2026・請求項13項
非鏡面の基板上の薄膜の膜厚を、簡便かつ高精度に測定することが可能な膜厚測定方法
ウェーハの位置座標の変換方法及び検査装置登録2026・請求項12項
アライナーを使用せずに、ウェーハの位置座標と、ステージ座標系の位置座標を相互に変換可能なウェーハの位置座標の変換方法
データ基準日: 2026年8月6日確認分
テラス幅の測定方法、欠陥測定方法及び測定装置登録2024・請求項9項
貼り合わせウェーハの外周部に存在するテラス幅を迅速かつ正確に測定することが可能なテラス幅の測定方法及び測定装置を提供すること
膜厚分布測定装置及び膜厚分布測定方法登録2024・請求項10項
ウェーハ全面の膜厚分布を測定するに際し、スループットの低下や測定データが大きくなることを抑制しつつ、膜厚の変化が大きい外周部の膜厚分布を高い空間分解能で高精度に測定することが可能な膜厚分布測定装置及び膜厚分布測定方法を提供すること
膜厚分布測定装置及び膜厚分布測定方法登録2024・請求項10項
ウェーハ全面の膜厚分布を測定するに際し、スループットの低下や測定データが大きくなることを抑制しつつ、膜厚の変化が大きい外周部の膜厚分布を高い空間分解能で高精度に測定することが可能な膜厚分布測定装置及び膜厚分布測定方法を提供すること
