法人向け（製造業）
業種・対象顧客は公開情報をもとに AI が推定したものです。持株会社など グループ経営の会社では、主要な事業会社の業種を表示します。実態と 異なる場合は お問い合わせください。
株式会社カツラ・オプト・システムズは、非接触光学測定センサの専門企業として、光学電子機器の開発、販売、企画、および開発研究コンサルティングを主要業務としています。同社は、レーザーを用いた高精度な非接触測定技術を核に、オートコリメーター（チルトセンサ）、3軸センサ、多軸センサといった幅広い製品群を提供しています。特に、世界最小クラスの超小型チルトセンサから、±10度を超える超広角測定が可能なチルトセンサ、さらには変位と傾斜を同時に測定できる3軸センサ、高さ・傾斜・位置・回転角度を多軸で測定する5次元・6次元センサまで、多様なニーズに対応する製品を展開しています。これらのセンサは、スマートフォンカメラ関連調整装置、レーザー光源調整装置、自動運転関連調整装置、デジタルカメラ関連調整装置、光学素子関連調整装置、光ピックアップ関連調整装置など、多岐にわたる産業分野で活用されています。 同社の製品は、半導体ウェーハの反りや傾き、光学部品の平行度や直角度、自動車部品の角度測定、ロボットのピッキング部監視、精密ステージの評価など、様々な精密測定・検査用途で実績を上げています。特に、オートコリメーター方式と三角測量方式を組み合わせた特許技術（特許第5330114号）により、変位と傾斜の同時測定を実現し、高分解能かつ高速な測定を可能にしています。また、顧客の具体的な課題解決のため、1点から専用設計を請け負う特注品開発にも注力しており、30年以上にわたる経験と知識を活かして最適な測定方法を提案し、試作から製品化までを一貫してサポートする体制を構築しています。国内大手企業や研究機関に加え、中国、韓国、台湾などの海外企業にも製品を供給し、グローバルな顧客基盤を確立しています。
2026年5月23日 時点。この概要は AI を利用して公開情報から抽出しています。事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
従業員数（被保険者）
21人 · 2026年8月
33期分（2023/12〜2026/08）
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株式会社カツラ・オプト・システムズは特許8件・商標2件を保有しています。商標は電子機器・ソフトウェア（第9類）、特許は計測などの分野が中心です。
特許
8件
審査中・消滅含む 23件
商標
2件
実用新案
0件
審査中・消滅含む 1件
登録・現存
8件
審査中
0件
満了
0件
消滅
4件
拒絶・取下げ
12件
ＫＯＳ
電子機器・ソフトウェア · 登録2011
ＫＡＴＳＵＲＡ ＯＰＴＯ ＳＹＳＴＥＭＳ
電子機器・ソフトウェア · 登録2011
シアリング干渉測定方法及びシアリング干渉測定装置登録2024・請求項27項
効率的に光学部品の収差を計測するために、シアリング干渉の測定に際し、従来、複数回行われていた干渉波面の計測を一度の計測で行う事を可能とする。
レンズ軸上軸外点像観察方法、その装置及びその方法を用いたプログラム登録2023・請求項8項
被測定レンズの軸上及び軸外の収差スポット形状を測定したすべての収差スポット画像を収差スポット分布画像として一画面上に表示して、各収差スポット画像データを一度に観察及び測定ができるレンズ軸上軸外点像観察方法、その装置及びその方法を用いたプログラムを提供する
データ基準日: 2026年8月6日確認分
検査カメラモジュールの調整装置及びその調整方法登録2022・請求項13項
テストチャートとカメラモジュールとの距離が大きく離れてしまう場合であっても、テストチャートを使用する方式と同等にカメラモジュールの調整が行えるような光源ユニットを用いることによって、省スペース化を図られたカメラモジュールの調整装置
レンズ光軸測定装置、及びレンズ光軸の測定方法登録2021・請求項10項
カメラモジュールの撮像素子上におけるレンズ光軸の位置、すなわち原点位置を正確に測定できるようなレンズ光軸測定装置、及びその測定方法を提供する
３次元チルトセンサ及びこれを用いた測定対象の３軸廻りの角度変位を測定する方法登録2018・請求項2項
測定対象の表面に設定した相互に直交するＸ軸、Ｙ軸及びこれらに直交する測定対象の表面に垂直なＺ軸廻りの角度変位（回転）を光学的に測定可能な測定装置（３次元チルトセンサ）及び測定方法
