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法人向け（製造業）行政向け
業種・対象顧客は公開情報をもとに AI が推定したものです。持株会社など グループ経営の会社では、主要な事業会社の業種を表示します。実態と 異なる場合は お問い合わせください。
アルファクス株式会社は、神奈川県川崎市中原区下新城に本社を置くオプトエレクトロニクス検査装置メーカーで、昭和54年（1979年）2月26日に設立、資本金1,500万円、従業員55名（2020年1月時点）、代表取締役は石塚靜。「未知への挑戦」を意味する社名のとおりレーザーダイオード（LD）量産用検査装置の自社ブランド開発・製造を創業以来の主軸とし、CD・MD・DVD・Blu-ray世代の光ディスク市場から現在の光通信市場まで一貫して対応するB to B開発主導型中小企業である。2021年11月に代表石塚が中小企業振興功労者として旭日単光章を受章している。 中核製品は半導体レーザ検査装置で、エッジ発光型レーザ（EEL）ダイオードベアチップ向け外観検査装置「AOI1000A」（上面・発光端面前後の3面を高速ウエハマッピング後に撮像検査）、TO-CANパッケージのLD素子をバーンインボードと搬送トレー間で全自動移載するインサータ／リムーバ「IR1100B」（1600素子対応・チャンバ構造のドライエア／N2充填試験室搭載）、後継機「IR3600A」「IR3600B」、VCSELウェハープローバーなどを揃え、量産工程の高速処理と位置再現性の高い構造を強みとする。国内のみならず中国・台湾・東アジア、欧州、北米の半導体メーカーに販売される。 第2の柱はLED関連事業で、LED量産用検査装置に加えLED照明機器・LED電球・LEDビジョン・LEDライティング応用製品を子母口事業所のLEDライティング部で開発販売する。第3の柱は2012年開始の農業支援システム事業「KRONOS（クロノス）」で、農業基本台帳システムを各自治体向けに開発販売し、調査支援タブレットも提供する。拠点は本社（川崎市中原区下新城）、子母口事業所（高津区子母口、2018年6月開設）、未来研究所（電気通信大学UECアライアンスセンター317号室、2017年3月入居、産学官連携拠点）の3拠点。取引銀行は三井住友銀行武蔵中原支店、三菱UFJ銀行武蔵小杉支店、川崎信用金庫新城支店、みずほ銀行武蔵小杉支店。
2026年5月16日 時点。この概要は AI を利用して公開情報から抽出しています。事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
従業員数（被保険者）
59人 · 2026年7月
14期分（2025/06〜2026/07）
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アルファクス株式会社は特許21件・商標5件・実用新案1件を保有しています。商標は照明・加熱・衛生装置（第11類）、特許は計測などの分野が中心です。
特許
21件
登録 8
商標
5件
登録 5
実用新案
1件
登録 1
登録・現存
5件
審査中
7件
満了
0件
消滅
4件
拒絶・取下げ
6件
アグリランプ
照明・加熱・衛生装置 · 登録2010
ＡＬＰＨＡＸ
電子機器・ソフトウェア・照明・加熱・衛生装置 · 登録2005
アルペット
照明・加熱・衛生装置 · 登録2004
アルペット
照明・加熱・衛生装置 · 登録2004
９０度方向動作自動テーブル登録2024・請求項10項
半導体素子検査のためのテーブルにつき、より省スペースでコンパクト且つより故障の少ない９０度方向動作自動テーブル
半導体素子の検査用プローブの押え機構登録2021・請求項7項
レーザダイオード（チップ、結晶）の性能を検査するについて、従来のプローブ針では十分な電流を流すことができず、精度のよい検査ができない状態となっており、現在、その電流を正確に流すことができるプローブが存在していなかったという点である。
データ基準日: 2026年7月26日確認分
産業分野: 計測機器（13）・電気工学（7）・その他分野（3）・化学（3）・機械工学（1）
レーザ光のプロファイル測定方法登録2017・請求項3項
従来のＣＣＤカメラを用いての測定方法の欠点を解消し、長いマルチビームで高出力のレーザのプロファイル、ニアフィールドパターンそれも光強度を効率よく短時間で精度よく測定し、対象に対しての調整対応も容易となり、データも一連のものとして取り込め、設備費用も低廉なものとしてできる測定方法が存在していなかったという点である。
半導体素子の検査装置登録2013・請求項2項
従来、プローブを利用して半導体素子の特性を検査する装置にあってはプローブを複数種必要とし、また、リード線が長くなってしまい、高速パルスが通りにくくなって検査の精度に支障をきたしてしまう虞があったという点である。
半導体素子の検査装置登録2012・請求項4項
従来、プローブを利用して半導体素子の特性を検査する装置にあっては、半導体素子の端子と接離するプローブによって、その端子が曲げられてしまう虞もあり、複数本の端子の検査時における完全な分離状態の維持が困難となってしまうという点であり、プローブの端子が剥がれる等の劣化も生じてしまう点である。
