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東京都千代田区に所在する、1992年設立・従業員18名の専門サービス（その他専門サービス）企業。
- 所在地
- 〒101-0065 東京都 千代田区 西神田３丁目８番１号
- 法人番号
- 5013301009035
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東京都千代田区に所在する、1992年設立・従業員18名の専門サービス（その他専門サービス）企業。
法人向け（製造業・IT・ソフトウェア）
ユーロフィンイーエージー株式会社は、半導体材料・半導体デバイス、半導体製造装置、電子部品を主要な対象とし、これらの材料分析、故障解析、構造解析、信頼性評価の受託分析・評価解析サービスを提供しています。同社は、セラミックス、合金・金属、レアメタル、ナノマテリアルといった幅広い各種材料の受託分析も手掛けています。40年以上にわたる高純度金属や高純度材料分析の実績を誇り、特にプロセス開発や品質保証に不可欠なSIMS（二次イオン質量分析）、TEM/STEM（透過型電子顕微鏡分析）、GDMS（グロー放電質量分析）分析において、世界20拠点・2500台超のユーロフィングループの設備と高度な技術力を駆使し、短納期での対応でお客様の研究開発を強力にサポートしています。 同社のサービスは多岐にわたり、100種類以上の分析・試験に対応しています。微小領域/形態分析では、TEM/STEM、FIB-SEM、SEM、3D-APT、AFM/SPMなどを活用し、半導体の微小領域・形態分析やナノレベルの高分解能・組成分析、デバイスの構造解析、欠陥調査を支援します。二次イオン質量分析では、水素を含む全元素を超高感度で分析するSIMSに加え、独自技術のPCOR-SIMSを展開し、化合物半導体の正確な組成・不純物評価を実現します。表面分析では、XPSやAESを駆使して半導体ウエハーの最表面から深さ方向、有機・金属汚染までを徹底評価し、元素の結合状態や結晶構造をナノレベルで解明することで、歩留まり向上に貢献します。純度分析では、GDMS、IGA、ICP-MS/OESを用いて高純度半導体材料や金属、液体の微量不純物を全元素網羅し、次世代デバイスの品質を左右する高度な材料評価を圧倒的な分析精度で支援します。 さらに、非破壊解析として3D-XCTやC-SAMを用いて半導体や電子部品の内部構造の可視化や不具合箇所の特定、原因究明を一貫してサポートします。信頼性評価/環境試験では、封止パッケージのIVA/HR-IVA、Kr85リーク試験、温湿度試験、熱衝撃試験、ガス腐食試験、振動試験など、多種多様な試験を実施し、国内ラボには100台以上の恒温恒湿層・温度サイクル試験層を保有しています。同社は専門的な技術力で課題解決、客観的な分析、専門家によるデータ解釈を提供し、イノベーションに寄与することをミッションとしています。材料分析・試験において最も信頼されるグローバルパートナーとなることをビジョンに掲げ、常に高みを目指し顧客の成功に貢献しています。
従業員数（被保険者）
18人 · 2026年5月
29期分（2023/12〜2026/05）
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