東京都港区に所在する、2000年設立・社会保険被保険者数619名の製造業(精密機器・光学)企業。
- 所在地
- 〒105-0001 東京都 港区 虎ノ門1丁目17番1号
- 法人番号
- 2040001000893
東京都港区に所在する、2000年設立・社会保険被保険者数619名の製造業(精密機器・光学)企業。
法人向け(製造業・医療・ヘルスケア)
2026年3月時点
業種・対象顧客は公開情報をもとに AI が推定したものです。持株会社など グループ経営の会社では、主要な事業会社の業種を表示します。実態と 異なる場合はお問い合わせください。
株式会社日立ハイテクアナリシスは、分析・計測・観察装置の開発、製造、販売、保守、および関連部品・消耗品の販売を主要事業としています。同社は、熱分析・粘弾性装置、液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)、分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)、原子吸光光度計、ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)、蛍光X線分析装置、膜厚測定装置、X線回折装置、X線検出器、質量分析装置(LC-MS、GC-MS)、核磁気共鳴装置、電子スピン共鳴装置、電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)といった幅広い製品ソリューションを提供しています。さらに、環境用分析・計測機器・装置、ガスバリア試験装置、オンサイト(ハンドヘルド/モバイル)元素分析装置、固体発光分光分析装置、微生物迅速検査装置、医療用液体クロマトグラフなど、特定の用途に特化した製品も手掛けています。同社の強みは、これらの高度な分析機器の提供にとどまらず、環境規制物質の受託分析サービス、保守・サービス、ユーザースクール、会員制サービスといった包括的なサポート体制を構築している点にあります。これにより、顧客は製品の導入から運用、メンテナンス、技術習得まで一貫した支援を受けることが可能です。科学技術の進展に貢献するため、研究開発から品質管理、環境モニタリング、医療診断まで多岐にわたる分野の顧客に対し、高精度かつ信頼性の高いソリューションを提供しています。旧社名である株式会社日立ハイテクサイエンス時代から培ってきた技術と経験を活かし、国内外の幅広い顧客層のニーズに応えています。
2026年8月21日 時点。この概要は AI を利用して公開情報から抽出しています。事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
純利益
-4,700万円
総資産
182億円
社会保険被保険者数
619人 · 2026年9月
30期分(2024/04〜2026/09)
被保険者数 前年同月比
-4.2% · 2026年9月
前年同月 646人(2025年9月)→ 619人(-27人)
ROE単体
-0.77% · 2026年3月
11期分(2016/03〜2026/03)
ROA単体
-0.26% · 2026年3月
11期分(2016/03〜2026/03)
自己資本比率単体
33.5% · 2026年3月
11期分(2016/03〜2026/03)
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ダミアーニ・ジャパン株式会社
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純利益
-4,700万円
総資産
182億円
株式会社日立ハイテクアナリシスは特許331件・商標19件・意匠20件を保有しています。商標は電子機器・ソフトウェア(第9類)、特許は計測などの分野が中心です。
特許
331件
審査中・消滅含む 1,222件
商標
19件
審査中・消滅含む 39件
意匠
20件
審査中・消滅含む 23件
登録・現存
331件
審査中
22件
うち審査請求なし 13件
満了
8件
消滅
388件
拒絶・取下げ
473件
※各区分の現存登録・審査中・消滅の件数です。企業の事業分野そのものではありません。
AminoARTS
電子機器・ソフトウェア · 登録2020
NEXTA
電子機器・ソフトウェア · 登録2019
NOBIAS
電子機器・ソフトウェア・工業・農業用化学品 · 登録2019
TDMASTER
電子機器・ソフトウェア · 登録2019
ChromAssist
電子機器・ソフトウェア ·
前処理装置、分析装置、および制御方法登録2026・請求項8項
分析対象中の六価クロムを測定する際の利便性を向上させ、試料の測定効率を良好とする。
液体クロマトグラフ、および液体クロマトグラフの制御方法登録2026・請求項8項
液体クロマトグラフによる測定を高速化する。
データ基準日: 2026年9月24日確認分
産業分野: 計測機器(現存220)・電気工学(現存150)・化学(現存23)・機械工学(現存6)
EEMアシスト
電子機器・ソフトウェア · 登録2019
アミノ酸分析方法及び液体クロマトグラフ装置登録2026・請求項7項
アミノ酸分析方法及び液体クロマトグラフ装置において、スレオニン、セリン、グリシン及びアラニンの分離性能の向上を図る。
分光分析システム及び分光分析方法登録2025・請求項13項
測定時間等に制約がある場合でも適切に測定を行えるようにする分光分析システム等
半導体検出器及びその製造方法登録2025・請求項3項
暗電流の増加を抑えつつ動作電圧(Vth)を高めることができる半導体検出器及びその製造方法