法人向け（製造業）
業種・対象顧客は公開情報をもとに AI が推定したものです。持株会社など グループ経営の会社では、主要な事業会社の業種を表示します。実態と 異なる場合はお問い合わせください。
株式会社ティアテックは、半導体および電子部品の測定・試験に関する総合的なソリューションを提供する企業です。同社は、半導体測定技術、品質向上、解析、ウェハーレベル測定、プリント基板加工に関する情報提供と技術支援を顧客に提供しています。主要な事業内容として、オンウェハーでのLCR測定システム、高電圧・高電流測定システム、そして大電流ウェハーテストを可能にするFatProbeシステムを提供しています。特にFatProbeは、プローブカードの針の溶融やスパークを防ぐカレントリミッター技術を核とし、SWTWで「Best Presentation」を受賞するなど、その技術力が評価されています。 同社は、信頼性試験装置の分野においても強みを発揮しており、Mini-MSRやMSRシリーズといったウェハーレベルからパッケージまで対応する多機能な信頼性試験システムを提供しています。これらのシステムは、300mmウェハーに対応し、-40度から200度までの広範な温度環境下でのIV/CV測定、WLR測定を可能にします。また、エレクトロマイグレーション試験、TDDB試験、ホットキャリア試験、NBTI試験など、多様なデバイス信頼性試験に対応するプローブカード（特に高温対応のセラミックタイル型）の開発・提供も行っています。 さらに、ESD（静電破壊）テストシステムとしてGTS社製HBMテストシステムを取り扱い、ウェハー、ベアダイ、パッケージのHBMテストを低寄生成分かつ高速で実行します。基板上のデバイスの不安定動作を検知する多ピン対応の接点アナライザー（CSAシリーズ）も提供し、応力、熱、振動下での接続不安定状態を詳細にモニタリングします。バーンインテスト装置では、次世代ハイパワーバーンインテスターや、チャンバー型、ガス型、オイル型、溶液浸型など多様な温度制御方式に対応した装置を提供し、特にハイパワーCPU/MPUの自己発熱を個別に制御する技術に注力しています。 ソフトウェア開発も同社の重要な柱であり、既存の測定器やプローバを最大限に活用するための信頼性試験用ソフトウェア「HOTEI-MSR」を提供しています。このプラットフォームは、TDDB、CV、NBTI/HCIなどの試験に対応し、様々なメーカーの測定器やプローバを統合制御することで、顧客の設備投資削減と効率的なシステム構築を支援します。ウェハーマッピングソフトウェアも提供し、測定結果の自動表示や不良予測ソフトウェアとの連携を可能にします。これらの製品とサービスを通じて、半導体メーカーや研究機関に対し、高度な測定・試験環境の構築とコンサルティングを提供し、半導体製品の品質向上と信頼性確保に貢献しています。
2026年4月30日 時点。この概要は AI を利用して公開情報から抽出しています。事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
社会保険被保険者数
6人 · 2026年10月
35期分（2023/12〜2026/10）
被保険者数 前年同月比
-1人 · 2026年10月
前年同月 7人（2025年10月）→ 6人（-1人）
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