山梨県南アルプス市に所在する、1994年設立・社会保険被保険者数25名の製造業（半導体・電子部品）企業。
- 所在地
- 〒400-0311 山梨県 南アルプス市 曲輪田５９５番地２
- 法人番号
- 3090001005086
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山梨県南アルプス市に所在する、1994年設立・社会保険被保険者数25名の製造業（半導体・電子部品）企業。
法人向け（製造業・教育・研修）
業種・対象顧客は公開情報をもとに AI が推定したものです。持株会社など グループ経営の会社では、主要な事業会社の業種を表示します。実態と 異なる場合はお問い合わせください。
株式会社YGKは、「新たな検査価値の創造」を基本方針に掲げ、半導体製造プロセスにおける品質管理を支える各種検査装置の設計、開発、製造、販売を手掛ける企業です。同社の主要事業は、半導体用ウエハ検査装置、その他各種検査装置、静電気関連および気中・液中パーティクル検査装置の提供です。特に、半導体の基盤となるウエハの表面検査に強みを持ち、コア技術である光散乱技術を駆使し、レーザ光をノンパターンウエハ表面に照射して生じる光散乱を高速で計測し、異物や欠陥をマップ化します。 製品ラインナップは多岐にわたり、量産ライン向けの「ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX」シリーズや、開発拠点向けのセミオート機「YPI-MN」シリーズを展開。これらはシリコンウエハ、膜付ウエハ、GaAs、InPなど不透明ウエハのプロセスモニターや洗浄確認に最適です。また、ガラス、石英、LT/LN、サファイアといった透明ウエハの表面のみを計測する独自の技術を活かした「透明ウエハ表面パーティクルスキャナ」も提供し、透明・不透明ウエハ両方の高感度測定を可能にしています。さらに、次世代パワー半導体として注目されるSiC/GaNウエハに対応した「SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX-DC」や、ダイシング後のテープフレーム付ウエハの高感度異物測定に特化した「ダイシング(テープフレーム) ウエハ表面パーティクルスキャナ YPI-MX TF」も開発し、後工程の研究開発ニーズに応えています。ガラス基板のキズや欠陥を可視化する「ガラス基板検査装置 XGS」、ペリクルの表裏面異物を高速測定する「ペリクルパーティクルスキャナ YPI-MX P」も手掛け、幅広い検査ニーズに対応しています。 同社の強みは、創業以来培ってきた高度な技術開発力と、お客様の課題解決に貢献する価値創造力です。ISO9001:2015の認証を取得し、品質マネジメントシステムを確立しているほか、「やまなしSDGs推進企業」として持続可能な社会への貢献も目指しています。デモルームではクリーンクラス10,000の環境下にクラス100のクリーンブースを設け、お客様のサンプルウエハをクリーンな状態で評価できる体制を整えています。主要取引先には、国立極地研究所、福岡大学、山梨大学といった研究機関から、アルプス電気、TDK、ディスコ、信越化学工業、住友電気工業、デンソー、三井化学、ローム、富士電機、ソニーセミコンダクタなどの大手企業まで、幅広い顧客層を有しており、半導体・電子部品業界の発展に不可欠な検査技術を提供し続けています。
2026年4月30日 時点。この概要は AI を利用して公開情報から抽出しています。事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
社会保険被保険者数
25人 · 2026年9月
34期分（2023/12〜2026/09）
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ザインエレクトロニクス株式会社上場
株式会社フェローテック上場
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日本電子材料株式会社上場
トレックス・セミコンダクター株式会社上場
アプライドマテリアルズジャパン株式会社
マイポックス株式会社上場
株式会社ニックス上場
株式会社ＹＧＫは特許7件・商標1件を保有しています。商標は電子機器・ソフトウェア（第9類）、特許は計測などの分野が中心です。
特許
7件
審査中・消滅含む 17件
商標
1件
登録・現存
7件
審査中
2件
うち審査請求なし 1件
満了
0件
消滅
2件
拒絶・取下げ
6件
ＹＧＫ
電子機器・ソフトウェア · 登録2008
平板基板の表面状態検査装置及びそれを用いた平板基板の表面状態検査方法登録2019・請求項8項
電子デバイス等が形成される平板基板に生じた欠陥の種別を識別することのできる平板基板の表面状態検査方法、その方法を利用した表面状態検査装置
平板基板の表面状態検査方法及びそれを用いた平板基板の表面状態検査装置登録2018・請求項8項
従来は検出することのできなかった極めて微細な引っ掻き傷、クラックなどを検出できる平板基板表面状態検査装置
データ基準日: 2026年8月6日確認分
ウェハ周縁端の異物検査方法、及び異物検査装置登録2015・請求項3項
ウェハ周縁端に付着した異物を正確に、かつ定量的に検出可能なウェハ周縁端の異物検査方法、及び異物検査装置
異物検査装置及び検査方法登録2014・請求項6項
透明平板基板の表裏に存在する微細な異物を光散乱方式により高感度に検出するとともに、異物が表裏のいずれに存在するかを確実に判別することができる異物検査装置及び検査方法
ウェハ周縁端の異物検査方法、及び異物検査装置登録2012・請求項9項
ウェハのどの部分にどの程度の大きさの欠陥があるのか、又どの程度の異物がどの部分に付着しているのかを、正確、かつ定量的に検出可能なウェハ周縁端異物検査方法、及び異物検査装置
