法人向け(製造業)
列真株式会社は、非破壊レーザー検査技術を専門とするレーザー検査装置の研究開発、製造、販売、およびアフターサービスを一貫して手掛ける企業である。同社は独自のレーザースキャン技術を核とし、半導体材料の表面および内部検査、石英ガラスの表面検査に特化した高精度・高速の検査装置を提供している。近年、半導体の高集積化や液晶・OLEDの高精細化が進む中で、リソグラフィー技術に用いられるガラス製品などに対する品質要求が厳しさを増しており、これらの時代のニーズに応える高品質なレーザー検査装置を開発・提供することで、半導体、液晶、医療といった幅広い分野の顧客を支援している。 同社の事業は、半導体ウェハー、フォトマスク、化合物半導体といった主要な電子材料や部品の欠陥を非破壊で検出することに重点を置いている。具体的には、GlassWaferやPhotomaskなどの製品カテゴリに対応する検査装置を通じて、微細な異物やパターン欠陥、内部構造の異常などを高精度に識別する。これにより、製造プロセスの品質向上と歩留まり改善に貢献し、最終製品の信頼性確保に寄与している。研究開発から製造、販売、そして導入後のアフターサービスまでを自社で完結させるビジネスモデルを構築しており、顧客に対して信頼性の高い製品と継続的なサポートを提供している点が強みである。 特に、光学および電子分野における継続的な技術研究を通じて、常に最先端の検査ソリューションを追求している。高精度かつ高速なレーザー検査技術は、生産ラインにおける効率的な品質管理を実現し、半導体やディスプレイ産業の進化を支える基盤技術となっている。日本国内に本社と工場を構えるほか、中国にも子会社を展開し、グローバルな市場ニーズに対応する体制を構築している。
2026年6月5日 時点。この概要は AI を利用して公開情報から抽出しています。事実と異なる箇所がある場合は お問い合わせください。
従業員数(被保険者)
15人 · 2026年6月
30期分(2023/12〜2026/06)
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日本電子材料株式会社上場
列真株式会社は特許4件・商標1件を保有しています。商標は電子機器・ソフトウェア(第9類)、特許は計測などの分野が中心です。
特許
4件
登録 2
商標
1件
登録 1
半導体戦争 : 世界最重要テクノロジーをめぐる国家間の攻防
Miller,Chris,1987- 千葉,敏生
半導体覇権を巡る国際情勢
産業分野: 計測機器(4)
LODAS/ローダス
電子機器・ソフトウェア · 登録2019
散乱光検出ヘッド登録2019・請求項3項
深みのある欠陥検査、換言すれば、厚みのある被検査物の表面、内部及び裏面の欠陥を1回の2次元走査により同時に検査可能とする。
欠陥検査装置登録2016・請求項7項
深みのある欠陥検査、換言すれば、厚みのある被検査物の表面、内部及び裏面の欠陥を1回の2次元走査により同時に検査可能とする。